15000 تومان
افزودن به سبد خرید
0 فروش 221 بازدید
جزئیات محصول
تاریخ انتشار: 25 دسامبر 2018
دسته بندی: ,

تبلیغات

آنالیز، مدلسازی و شبیه سازی شرایط پرش – فاز(افت ولتاژ فاز) در مبدل ها: بزرگترین جریان های هجومی

چکیده

جریان های هجومی  (inrush) در ترانسفورماتورها می توانند اثرات مختل کننده ای را داشته باشند از جمله ضعیف شدن ولتاژ، جابجایی کاذب (false tripping) دستگاه های محافظ و تنش های مکانیکی در سیم پیچ های ترانس. این مقاله نشان می دهد که شرایط عملیاتی وجود دارند که می توانند سبب شوند یک ترانسفورماتو جریان های هجومی بسیار بالایی را دریافت کند. مثالها عبارتند از راه اندازی عادی سیستم های منبع تغذیه مختل نشدنی (UPS) آفلاین، اختلال ها، افت  ولتاژ و ایجاد شکاف. این شرایط می توانند جریان های هجومی مانندی را با بیش از دو برابر مقدار حداکثر هجومی نرمال (ناشی از انرژی دهی با ولتاژ عبوری از صفر (Voltage zero-crossing)) تولید کنند. برای این شرایط، عبارت “پرش – فاز” در این مقاله به کار می رود. آزمایشات روی چهار ترانسفورماتور مختلف (۱ kVA) با مشخصات متغیر انجام شدند و اثر پرش – فاز را در بزرگی جریان های هجومی نشان می دهند. همچنین آزمایشاتی برای اعتبارسنجی مدل برنامه گذارهای الکترومغناطیسی بکاررفته برای آنالیز موارد متعدد استفاده شدند. بعلاوه، رفتار شار مغناطیسی در یک ترانسفورماتور تحت پرش –فاز بررسی شده و با شرایط کاری مختلف با استفاده از المان های محدود مقایسه می شود. نتایج این مقاله مفاهیمی را در طراحی ترانسفورماتور و راه اندازی و طراحی سیستم های UPS برای جلوگیری از اثرات مضر پرش – فاز به همراه دارد.

کلمات کلیدی: جریان های هجومی ، اختلالات، پرش – فاز، مدلسازی ترانسفورماتو، سیستم های منبع تغذیه مختل نشدنی (UPS)، افت ولتاژ

مقدمه

امروزه مشکلات کیفیت توان (PQ) به دلیل افزایش کاربرد بارهای الکترونیکی قدرت (برق)، مسائل مهمی هستند. اختلالات و خاموشی ها بدترین شکل مشکلات کیفیت برق هستند. خاموشی به از دست رفتن کامل ولتاژ تغذیه یا جریان بار برای بیش از یک دقیقه گفته می شود. هارمونیک ها، بین هارمونیک ها، تغییرات فرکانس برق، عدم توازن ولتاژ، اختلالات، ایجاد شکاف، ولتاژهای کم (فشار کم)، فشار زیاد، شکم ها، نویز،انحراف dc ، نوسانات ولتاژ و افت ولتاژ از پدیده های رایج عملیات سیستم قدرت هستند که سبب مشکلات PQ می شوند.

Analysis, Modeling, and Simulation of the Accuracy of Continuous Glucose Sensors

Continuous glucose monitors (CGMs) collect a detailed time series of consecutive observations of the underlying process of glucose fluctuations. To some extent, however, the high temporal resolution of the data is accompanied by increased probability of error in any single data point. Due to both physiological and technical reasons, the structure of these errors is complex and their analysis is not straightforward. In this article, we describe some of the methods needed to obtain a description of the sensor error that is detailed enough for simulation.

لینک مقاله اصلی:

افزودن به سبد خرید

لطفاً براي ارسال دیدگاه، ابتدا وارد حساب كاربري خود بشويد

محصولات پر فروش

پر فروش ترین محصولات فروشگاه روکساوب